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  • LQ-TS耐冷热交变实验箱
    LQ-TS耐冷热交变实验箱

    耐冷热交变实验箱与触摸屏行业高低温冲击试验箱主要测试触摸屏产品或触摸屏行业相关的产品及零件等材料在在瞬间下经高温(热冲击)及低温(冷冲击)的连续环境下所能忍受的程度,得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。可用来做研发、生产、检验、试验、实验用。

    更新时间:2024-04-07型号:LQ-TS
  • LQ-TS户外用品冷热冲击温度试验箱
    LQ-TS户外用品冷热冲击温度试验箱

    户外用品冷热冲击温度试验箱|半导体冷热冲击试验机适用于半导体、电子电器零组件、化学材料、金属材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、及高分子材料之物理变化的理想测试设备。本设备可实际温度定值或程序控制

    更新时间:2024-09-20型号:LQ-TS
  • LQ-TS10S冷热冲击温度试验箱
    LQ-TS10S冷热冲击温度试验箱

    10S冷热冲击温度试验箱半导体冷热冲击试验机适用于半导体、电子电器零组件、化学材料、金属材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、及高分子材料之物理变化的理想测试设备。本设备可实际温度定值或程序控制,柳沁采用 流行的制冷控制模式,可以0%~100%自动调节压缩机制冷功率,较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%。制冷及电控关键零配件,使柳沁品牌的半导体冷热冲

    更新时间:2024-09-18型号:LQ-TS
  • LQ-TS电子元器件冷热冲击温度试验箱
    LQ-TS电子元器件冷热冲击温度试验箱

    电子元器件冷热冲击温度试验箱|半导体冷热冲击试验机适用于半导体、电子电器零组件、化学材料、金属材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、及高分子材料之物理变化的理想测试设备。本设备可实际温度定值或程序控制

    更新时间:2024-09-12型号:LQ-TS
  • 10S冷热冲击试验箱
    10S冷热冲击试验箱

    10S冷热冲击试验箱一种环境测试方法,‌旨在评估产品在温度急剧变化的环境下的适应性和可靠性。‌主要涉及产品在短时间内经历从高温到低温或从低温到高温的快速温度变化,‌以检验产品的结构和性能是否能够适应这种剧烈的温度波动。‌这种测试对于评估产品的环境适应性和可靠性至关重要,‌尤其是在航空航天、‌电子、‌信息等领域的应用中。‌测试标准包括GB/T 2423.1、‌IEC 60068-2-1

    更新时间:2024-09-05型号:
  • LQ-TS快速冷热冲击温度试验箱
    LQ-TS快速冷热冲击温度试验箱

    快速冷热冲击温度试验箱|半导体冷热冲击试验机适用于半导体、电子电器零组件、化学材料、金属材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、及高分子材料之物理变化的理想测试设备。本设备可实际温度定值或程序控制,柳沁采用 流行的制冷控制模式,可以0%~100%自动调节压缩机制冷功率,较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%。制冷及电控关键零配件,使柳沁品牌的半导体冷热冲

    更新时间:2024-09-03型号:LQ-TS
  • 高低温冲击试验箱
    高低温冲击试验箱

    高低温冲击试验箱一种环境测试方法,‌旨在评估产品在温度急剧变化的环境下的适应性和可靠性。‌主要涉及产品在短时间内经历从高温到低温或从低温到高温的快速温度变化,‌以检验产品的结构和性能是否能够适应这种剧烈的温度波动。‌这种测试对于评估产品的环境适应性和可靠性至关重要,‌尤其是在航空航天、‌电子、‌信息等领域的应用中。‌测试标准包括GB/T 2423.1、‌IEC 60068-2-1

    更新时间:2024-08-23型号:
  • led高低温冲击试验箱
    led高低温冲击试验箱

    led高低温冲击试验箱是一种可以瞬间从高温到低温转换的检测设备,用于测试材料结构或复合材料,在瞬间下经超高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

    更新时间:2024-08-21型号:
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