单组份硅橡胶冷热冲击试验箱

单组份硅橡胶冷热冲击试验箱广泛用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA. PCB基扳、电子芯片IC,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害。

特点：

两箱式冷热冲击试验箱广泛用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA. PCB基扳、电子芯片IC. 半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的质量,从精密的IC到重机械的组件，可作为其产品改进的依据或参考。

单组份硅橡胶冷热冲击试验箱的性能参数参考如下：

一、低温冲击可选择温度范围：A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃（厂家还免费配高温至150度）。

二、温度偏差：±2℃。

三、温度波动度：±0.5℃。

四、温度恢复时间：≤5min。

五、温度恢复条件：高温150℃曝露30min低温-20℃曝露30min，高温150℃曝露30min低温-40℃曝露30min，高温150℃曝露30min低温-55℃曝露30min，高温150℃曝露30min低温-65℃曝露30min。

六、温度冲击转移方式：采用气动驱动。   

七、高温室储温的升温时间：30min (+25℃～+200℃)。

八、低温室储温的降温时间：65min (+25℃～-75℃)。

九、低温冲击试验机|低温冲击机|冲击试验机工作时的噪音：（dB）≤65( 标准规定≤65分贝不算噪音）

十、型号             内箱尺寸（mm)             外箱尺寸（mm）           功率（kw)

LQ-TS-49       W360×H350×D400        W1550×H1730×D1440           18.5       

LQ-TS-80       W500×H400×D400        W1650×H1830×D1500           23.0

LQ-TS-150      W600×H500×D500        W1750×H1930×D1570           28.0

LQ-TS-225      W500×H750×D600        W1450×H2100×D1670           34.0

LQ-TS-408      W750×H800×D800        W1550×H2150×D1900           42.0