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快速高低温冲击实验箱

简要描述:快速高低温冲击实验箱,因为温度可以随时变化做试验,所以也能称它为温冲温变箱。此设备的主要特点是温度试验可以设定快速冲击及快速变化,快可以在3秒钟内从高温变到低温,5分钟内完成冲击 效果。破坏能力强,功率比普通高低温试验箱高出许多倍。所以技术难度及成本也相对高许多。

产品型号: LQ-TS

所属分类:高低温冷热冲击机

更新时间:2022-04-21

厂商性质:生产厂家

详情介绍
品牌柳沁科技产地国产
产品新旧全新自动化程度其他
尺寸800*1000*1000

快速高低温冲击实验箱,因为温度可以随时变化做试验,所以也能称它为温冲温变箱。此设备的主要特点是温度试验可以设定快速冲击及快速变化,快可以在3秒钟内从高温变到低温,5分钟内完成冲击 效果。破坏能力强,功率比普通高低温试验箱高出许多倍。所以技术难度及成本也相对高许多。该试验设备主要用于对电工、电子产品,以及其元器件等各类产品按照标准要求或用户自定要求,在高温与低温瞬间变化条件下,对原产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟试验,试验后,通过检测,来判断相关产品的性能是否仍然能够符合预定要求,以便供各类产品的设计、改进、鉴定及出厂检验用。

 

标准型型号(另:可根据客户要求定做):

LQ-TS--80 内箱尺寸:500×400×400 外箱尺寸:1800×1800×1440。

LQ-TS--150 内箱尺寸:600×500×500 外箱尺寸:1800×1900×1540。

LQ-TS--250 内箱尺寸:700×600×600 外箱尺寸:1900×2000×1640。

LQ-TS-S-480 内箱尺寸:800×800×750 外箱尺寸:2020×2250×2150。

 

快速高低温冲击实验箱|半导体高低温冲击试验箱的测控系统:

1.控制器: 7寸触屏中英文显示器+PLC﹙控制软件﹚+温控模块。

2.运行方式:程序方式。

﹙1﹚控制对象 试验区曝露温度。

高温恒温区预热温度。

低温恒温区预热温度。

低温恒温区除霜温度。

﹙2﹚指示精度 0.1℃。

﹙3﹚输 入 热电偶 TDIN。

﹙4﹚控制方式 微电脑PID+SSR控制。

3.设定方式:中文菜单,触摸屏方式输入。

4.程序容量:100组程式,每个程序3步;每个程序可设1000次循环,循环设定9999cycles。

5.设定范围:预热预冷箱区。

高温室预热温度上限:+200℃。

低温室预冷温度下限:-75℃。

试验室﹙试样区﹚。

温度冲击上限:+150℃。

温度冲击下限:-65℃。

6.显示分辨率:温度:0.1℃ 时间:0.1min。

7.通讯功能:RS-232接口及USB接口,具有本地和远程通讯功能。

8.控制方式:抗积分饱和PID,模糊算法;BTC平衡调温控制方式。

9.附属功能:故障报警及原因、处理提示功能、超温保护、故障记录、上下限温度保护、传感器上下风选择、断电保护、试验暂停、报警输出、时间信号输出,试验结束输出、温度到达输出、定时启动及自动停止功能、自诊断功能。

 

 

所满足的标准有以下:

GB/T2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验A 低温;GJB360.7-87温度冲击试验;GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温;GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件;GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件;GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件;GB/T 2423.22-2002温度变化;GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则;SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式;SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式;GB/T5170.2-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 温度试验设备;GB2424.1 电工电子产品环境试验 高低温试验导则;GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则;GJB150.3A-2009 装备实验室环境试验方法第3部分高温试验;GB/T2423.22-1989温度变化试验;GJB 150.4A-2009 装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验;GJB 150.5A-2009 装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验;GJB367.2-1987 通信设备通用技术条件 环境试验方法;GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验;IEC68-2-14_试验方法N_温度变化;EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估;QC/T 17-1992 汽车零部件耐候性试验一般规则 汽车行业标标准等等包括其它产品行业标准。

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