芯片恒温恒温交变试验箱

芯片恒温恒温交变试验箱的用途：

电工、电子、仪器仪表及其它产品、零部件及材料，在高低温交变湿热环境下贮存、运输、使用时、耐低温、耐潮湿循环的适应性试验；是各类电子、电工、电器、塑胶等原材料和器件进行耐寒、耐热、耐湿、耐干性试验及品管工程的可靠性测试设备。

芯片恒温恒温交变试验箱符合标准：

性能指标符合GB5170、2、3、5、6-95《电工电子产品环境试验设备基本参数检定低温、高温、恒定湿热、交变湿热试验设备》的要求。

电工电子产品基本环境试验规程 试验A：低温试验GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)

电工电子产品基本环境试验规程 试验B：高温试验GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)

GJB150.3(ML-STD0-810D)高温试验

GJB150.4(MIL-STD-810D)低温试验

规格参数:

型号可选：LQ-TH-80/100/150/225/408/800/1000（ABCD）。

内箱尺寸可选(mm)宽*高*深 W*H*D ：400×500×400 mm/500×500×400 mm/500×600×500 mm/600×850×800 mm/1000×1000×800 mm//1000×1000×1000 mm。

温度范围可选:A：0℃～150℃/B：-20℃～150℃/；C：-40℃～150℃/；D：-70℃～150℃/（可任意调节）。

湿度范围:20%~98%RH（行业标准型）。

升降温速率：

RT<----->150℃ 约35分钟（非线性空载，约3.0℃/分钟）。

RT<----->-20℃ 约45分钟（非线性空载，约1.0℃/分钟）。

解析精度： 0.01℃。       

控制精度：≤±0.5℃。

均匀度：≦2.0℃。

电源功率：AC1￠3W 220V 50/60HZ或AC3￠5W380V 50/60HZ，功率电流视型号规格而定。